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TEM的圖像襯度-直接測量晶體材料的晶面間距

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

TEM的圖像襯度來自于三種機(jī)制.它們對成像都起到了作用:質(zhì)錄/厚度、

衍射和相位。在明場成像中.物鏡孔徑對準(zhǔn)光軸中央，其大小決定了形成圖像的

散射電子的數(shù)量。較厚或密度較高的區(qū)域產(chǎn)生更多的散射電子.致使圖像更暗。

如果樣品是晶體，那么電子可能發(fā)生衍射，圖像襯度將取決于品體取向，較強(qiáng)衍

射區(qū)形成的圖像較暗。當(dāng)令不同相位的電子通過物鏡孔徑并對成像發(fā)揮作用時(shí).

將產(chǎn)生相位襯度。由于大部分散射事件都會(huì)導(dǎo)致相位的改變，而又不可能選擇足

夠小的物鏡孔徑排除所有散射電子，因此大多數(shù)TEM圖像都存在一些相位襯

度.如果散射電子束通過物鏡孔徑并發(fā)生干涉，則能夠獲得樣品的晶格圖像。從

晶格圖像可以直接測量晶體材料的晶面間距。

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