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電子顯微鏡微區(qū)分析用于鑒定微粒礦物

信息分類:生命科學(xué)資訊    作者:YIYI發(fā)布 

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電子顯微鏡微區(qū)分析用于鑒定微粒礦物

  礦物中某一元素所產(chǎn)生的特征X射線光子的數(shù)量,與礦物中該
元素的含量成正比,因此,根據(jù)礦物中一元素的特征X射線強(qiáng)度
和也已知成分的標(biāo)準(zhǔn)樣品的同一特征X射線強(qiáng)度相比較,即可獲
得定量的數(shù)據(jù)。

  電子探針分析主要用于微區(qū)分析,最小的分析區(qū)域在1微米以
下,通過電子束掃描法,可查定幾百微米內(nèi)元素的濃度變化。
  電子探針在礦石方面目前主要用于鑒定微粒礦物,測定礦物的
化學(xué)組成,并研究礦物中各部分的含量變化,由于通過電子探針
在礦物表面上掃描,可直接地了解到元素在礦物中的含量分布情
況,如果元素分布不均勻就可能是機(jī)械入物,假如元素在礦物中
分布均勻又不是礦物的固定組成的元素,就可能是類質(zhì)同像混入
其中的,因此電子探針是研究礦石中元素存在形式的有力工具。

本文由出自上海光學(xué)儀器廠,轉(zhuǎn)載請注明