各種消光類型在各晶系中的分布大致有一定的規(guī)律
斜消光解理縫、雙晶縫或晶體外形與目鏡十字絲斜交時礦片發(fā)生消
光,角閃石,輝石的縱切面常表現(xiàn)為斜消光。
礦物切片的消光類型,決定于礦物的光性方位及切片方向。
各種消光類型在各晶系中的分布大致有一定的規(guī)律,參看表2-3 有
助于了解消光類型與晶系及切面方位的關系。
錐光鏡下的晶體
光學性質(zhì)正交偏光系統(tǒng)再加上三個
顯微鏡附件就構
成了錐光系統(tǒng),或稱聚斂偏光鏡系統(tǒng),這三個附件是:錐光鏡,勃氏鏡
和中倍或高倍接物鏡。
錐光鏡的作用是使平行入射偏光高度聚斂,形成錐形偏光,在錐形
偏光中,除中央一長光垂直射入礦片外,其余各條光波都傾斜射入礦片,
愈向外傾角愈大,而且在礦片中經(jīng)過的距離也是愈外愈長。
非均質(zhì)體礦物的性質(zhì)隨方向而異,由不同方向入射的光其光率體橢
圓切面各不相同,許多不同方向的入射光同時進入礦片后產(chǎn)生不同的光
程差,到達上偏光所發(fā)生的消光和干涉效應也各不相同,因此,錐光鏡
下所觀察到的,不是礦物本身的映低像,而是偏光鏡中各個方向入射光
通過礦片后達到上偏光所發(fā)生的消光與干涉現(xiàn)象的總和,它構成一些特
殊的圖形,稱為干涉圖。
觀察干涉圖時加上勃氏鏡,是為了使干涉圖成為放大的被實像,使
用高倍物鏡,它的工作距離較低倍物鏡短得多,因此可以接納傾斜角度
較大的光線,使干涉圖完整清楚。
利用干涉圖可以觀察和測定晶體的軸性,光性、切片方位,光軸角,
色散等重要光學常數(shù)和特征。