立式光學(xué)計(jì)是通過工件和量塊相比較的
測量方式,來獲得工件與量塊之間的微差尺寸,所以
立式光學(xué)計(jì)又被稱之為立式光學(xué)比較儀。
立式光學(xué)計(jì)主要應(yīng)用于幾何量比較測量,不
僅可用于進(jìn)行工件外徑及高度尺寸的測量,同時(shí)
加以三線附件用三線法還可進(jìn)行外螺紋中經(jīng)的測
量,還有在使用上也是可以將儀器上的光學(xué)系統(tǒng)
取下,安裝于其他設(shè)備上的,可進(jìn)行精密調(diào)整、
檢查以及尺寸控制。
立式光學(xué)計(jì)的測量精度是十分的高的,所以
也是會被用作長度基準(zhǔn)傳遞儀器的。